X射線探傷機原理及優(yōu)缺點介紹
X射線探傷機原理
所謂射線探傷是利用某種射線來檢查焊縫內(nèi)部缺陷的一種方法。常用的射線有X射線和γ射線兩種。X射線和γ射線能不同程度地透過金屬材料,對照相膠片產(chǎn)生感光作用。利用這種性能,當(dāng)射線通過被檢查的焊縫時,因焊縫缺陷對射線的吸收能力不同,使射線落在膠片上的強度不一樣,膠片感光程度也不一樣,這樣就能準(zhǔn)確、可靠、非破壞性地顯示缺陷的形狀、位置和大小。
X射線透照時間短、速度快,檢查厚度小于30mm時,顯示缺陷的靈敏度高,但設(shè)備復(fù)雜、費用大,穿透能力比γ射線小。
利用X射線可以穿透物質(zhì)和在物質(zhì)中有衰減的特性來發(fā)現(xiàn)其中缺陷的一種無損探傷方法。
X射線探傷優(yōu)點:
成像直觀、照相底片可以長期保存,對薄壁工件探傷靈敏度很高。對體積狀缺陷敏感,缺陷影象的平面分布真實、尺寸測量準(zhǔn)確。對工件表面光潔度沒有嚴(yán)格要求,材料晶粒度對檢測結(jié)果影響不大,可以適用于各種材料內(nèi)部缺陷檢測。所以在壓力容器焊接質(zhì)量檢驗中得到廣泛應(yīng)用。
X射線探傷缺點:
對面狀缺陷不敏感,射線對人體有害,射線源昂貴,防護成本更高。射線照相法底片評定周期較長,對厚壁工件檢測靈敏度低。
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