X射線探傷儀的基本原理有哪些？當強度均勻的射線束透照射物體時，如果物體局部區(qū)域存在缺陷或結(jié)構(gòu)存在差異，它將改變物體對射線的衰減，使得不同部位透射射線強度不同，這樣，采用一定的檢測器（例如，射線照相中采用膠片）檢測透射射線強度，就可以判斷物體內(nèi)部的缺陷和物質(zhì)分布等。

射線探傷儀常用的方法有X射線探傷、γ射線探傷、高能射線探傷和中子射線探傷。對于常用的工業(yè)射線探傷來說，一般使用的是X射線探傷、γ射線探傷。

X射線是在高真空狀態(tài)下用高速電子沖擊陽極靶而產(chǎn)生的。γ射線是放射性同位素在原子蛻變過程中放射出來的。兩者都是具有高穿透力、波長很短的電磁波。不同厚度的物體需要用不同能量的射線來穿透，因此要分別采用不同的射線源。例如由X射線管發(fā)出的X射線（當電子的加速電壓為400千伏時），放射性同位素60Co所產(chǎn)生的γ射線和由 20兆電子伏直線加速器所產(chǎn)生的X射線，能穿透的鋼材厚度分別約為90毫米、230毫米和600毫米。

X射線探傷裝置的工作電壓高達數(shù)萬伏乃至數(shù)十萬伏，作業(yè)時應注意高壓的危險。工業(yè)射線照相探傷中使用的低能X射線機，簡單地說是由四部分組成：射線發(fā)生器（X射線管）、高壓發(fā)生器、冷卻系統(tǒng)、控制系統(tǒng)。當各部分獨立時，高壓發(fā)生器與射線發(fā)生器之間應采用高壓電纜連接。

X射線探傷儀的基本原理有哪些？當強度均勻的射線束透照射物體時，如果物體局部區(qū)域存在缺陷或結(jié)構(gòu)存在差異，它將改變物體對射線的衰減，使得不同部位透射射線強度不同，這樣，采用一定的檢測器（例如，射線照相中采用膠片）檢測透射射線強度，就可以判斷物體內(nèi)部的缺陷和物質(zhì)分布等。

射線探傷儀常用的方法有X射線探傷、γ射線探傷、高能射線探傷和中子射線探傷。對于常用的工業(yè)射線探傷來說，一般使用的是X射線探傷、γ射線探傷。

X射線是在高真空狀態(tài)下用高速電子沖擊陽極靶而產(chǎn)生的。γ射線是放射性同位素在原子蛻變過程中放射出來的。兩者都是具有高穿透力、波長很短的電磁波。不同厚度的物體需要用不同能量的射線來穿透，因此要分別采用不同的射線源。例如由X射線管發(fā)出的X射線（當電子的加速電壓為400千伏時），放射性同位素60Co所產(chǎn)生的γ射線和由 20兆電子伏直線加速器所產(chǎn)生的X射線，能穿透的鋼材厚度分別約為90毫米、230毫米和600毫米。

X射線探傷裝置的工作電壓高達數(shù)萬伏乃至數(shù)十萬伏，作業(yè)時應注意高壓的危險。工業(yè)射線照相探傷中使用的低能X射線機，簡單地說是由四部分組成：射線發(fā)生器（X射線管）、高壓發(fā)生器、冷卻系統(tǒng)、控制系統(tǒng)。當各部分獨立時，高壓發(fā)生器與射線發(fā)生器之間應采用高壓電纜連接。

射線探傷儀在玻璃工業(yè)中，一般使用硅砂、白云石、長石等多種原料，按照一定的配料比例混合熔化成玻璃液，射線探傷儀經(jīng)過成型、退火、生產(chǎn)出各種玻璃產(chǎn)品。各種原料化學成分的含量，是進行配料計算的依據(jù)，在生產(chǎn)中藥隨時掌握原料化學成分的波動情況，及時調(diào)整配方，從而確保玻璃產(chǎn)品的質(zhì)量穩(wěn)定。玻璃產(chǎn)品的化學成分含量則反應玻璃的物理性質(zhì)和化學穩(wěn)定性，其中每個部分發(fā)生變化，不符合設計成分，都會影響玻璃產(chǎn)品的特性及質(zhì)量，同時也會對玻璃生產(chǎn)過程中熔化、成型、退火造成影響。因此，在玻璃工業(yè)中，對原料及玻璃產(chǎn)品進行及時、準確的化學成分分析，起到重要作用。

射線探傷儀傳統(tǒng)上對硅砂、白云石、玻璃等物質(zhì)進行化學成分分析時，一般都是采用化學分析方法?；瘜W分析方法的樣品處理過程比較繁瑣，操作步驟多，工作量大、比較容易產(chǎn)生人為誤差，并且處理過程耗費時間長，尤其是要對原料和玻璃進行多方面的成分分析時，射線探傷儀需要1至2天甚至更長的時間才可以得出結(jié)果，造成進廠原料到貨要花約一天的時間候化驗結(jié)果。另一方面，原料、產(chǎn)品的分析結(jié)果滯后于生產(chǎn)。若改用儀器分析，則可提高檢測效率，并且操作簡單，結(jié)果準確，可避免操作過程中引入的人為誤差。

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